賽多利斯超微量和微量天平是實驗室天平為稱量Z小樣品量和滿足Z高要求而設計的電子天平。他們同樣適用于稱量在較重容器中的樣品。特殊的微量天平版本可用于濾膜稱量。
Quintix系列電子天平能夠自動檢測sartorius 標準打印機 YDP40。通過人 機對話式的用戶引導(例如 通過輸入正確的樣本 ID 編 號),Quintix 能夠幫助打印機輸出無差錯的結果。
BS124S電子分析天平,防靜電涂層玻璃防風罩,能有效地屏蔽外界靜電荷的干擾,內置 RS232 標準接口,符合 GLP 標準。
CPA324S電子分析天平,內置電機驅動校準砝碼確保只需按一下鍵即可獲得Z高的精確性 isoCAL校準/調整功能。
CPA225D電子分析天平,CPA225D,,賽多利斯天平,賽多利斯總代理,采用創新的 monolithic 稱重傳感器,具有突出的性能.